Schülern der gymnasialen Oberstufe soll die Gelegenheit gegeben werden, praktisch mit Lichtmikroskopen und sogar Rasterkraftmikroskopen zu arbeiten.

Als Geräte kommen u.a. ein speziell für die Ausbildung konzipiertes „Schüler-AFM“ (engl.: AFM = atomic force microscope bzw. Rasterkraftmikroskop) zum Einsatz.

Die erfassten Messdaten werden visualisiert, wobei die Bandbreite der Darstellungen von Bildern, Filmen bis zu interaktiven Präsentationen reicht.